70nm الترا عالية الدقة معايرة العينات القياسية ( forafm ، ووزارة شؤون المرأة ، auger و فيبوناتشي )

قابلة للتفاوضتحديث11/25

نموذج

طبيعة المصنع: المنتجين

فئة المنتج

مكان المنشأ

استشارة عبر الإنترنت

نظرة عامة

70nm الترا عالية الدقة معايرة عينة القياسية ( فؤاد ، ووزارة شؤون المرأة ، auger و فيبوناتشي )

تفاصيل المنتج

شريطية70 نانومترالتباعد ، الابعاد التباديل ، بالضبط0.25nmهناك نوعان من الشهادات مع وبدون شهادات . التباعد مع الشهادة يتطلب الرجوع إلى الرقم الفعلي على الشهادة . هامش المجسم الدقيق ينطبق على المجاهر فائقة الدقة )25kx-1000kxمعايرة دقيقة في الاتجاه الأفقي ، معايرة دقيقة على مقياس النانو ، وهلم جرا . عالية الاستقرار وقابلية عالية .

رقاقة الحجم :4س3س0.5 مم، صنع نمط السيليكا ( ريدج العرض )35 نانومترعالية35 نانومترهذه المعلمة لا معايرة .

هناك نوعان من المنتجات المتاحة :نموذج 70-1Dو .نموذج 70-1DUTCواحدنموذج 70-1Dمعايرة عينة قياسية,مع شهادة الشركة المصنعة,لا يمكن تعقبها .نموذج 70-1DUTCمعايرة عينة قياسية,تصديق,التتبع,تقديم الشهادة )PTB ، نظير ألماني لـ NIST. لا

طلب معلومات :

رقم الشحن	اسم المنتج	مواصفة
80127-1D	نموذج 70-1D ، معيار المعايرة ، غير المثبت	واحد
80127-1D-X	عينة الجدول مع دبوس يمكن توفيره . أوAFMص15 ممالفولاذ المقاوم للصدأالقرص) ; أو تعيين عينة الجدول	واحد
80127-1DC	نموذج 70-1DUTC، مع شهادة ،غير المثبتة	واحد
80127-1DC-X	عينة الجدول مع دبوس يمكن توفيره . أوAFMص15 ممالفولاذ المقاوم للصدأالقرص) ; أو تعيين عينة الجدول	واحد

منتج مماثل يوصي