هيتاشي سطح المكتب المجهر الإلكتروني tm4000 / tm4000plus

قابلة للتفاوضتحديث07/10

نموذج

طبيعة المصنع: المنتجين

فئة المنتج

مكان المنشأ

استشارة عبر الإنترنت

نظرة عامة

تفاصيل المنتج

هيتاشي سطح المكتب المجهر الالكترونيس

هيتاشي tm4000 مجهر مسح بالإلكترون ( SEM ) فريدة من نوعها نظام فراغ منخفضة تسمح عينات يمكن ملاحظتها بسرعة دون أي علاج . tm4000 الأمثل يوفر ثلاث طرق المراقبة تحت الفولتية المختلفة : 5KV ، 10KV ، 15KV ، كل منها يمكن أن يكون قابل للتعديل مع أربع مراحل الحالية ، ومجهزة مع 4-segmentated backscattered الكاشف . وقد sem-map الملاحة الجديدة وظيفة ، وفي الوقت نفسه ، صورة مجهرية الإلكترون يمكن استخلاصها في شكل تقرير . مجهزة عينة كبيرة بن ، يمكن أن تستوعب أكبر عينة قطرها 80mm وسمك 50mm .

tm4000plus يضيف حساسية عالية ومنخفضة فراغ الالكترونية الثانوية مسبار الأشعة فوق البنفسجية على أساس tm4000 ، والتي لديها نوعية جيدة من التصوير في انخفاض فراغ البيئة . tm4000plus يمكن أن كومة من الإلكترونات الثانوية و backscattered الإلكترون الصور وعرض في الوقت الحقيقي للحصول على أقصى قدر من عينة من المعلومات . يمكن أن تكون مطابقة مع الملحقات الغنية ، مع العديد من الميزات الإضافية .

المعالم الرئيسيةس

1 - ظروف المراقبة : 5KV / 10KV / 15KV EDX

2 . التكبير : 10 × 100000 ×

3 . مراقبة الوضع : موصل ( tm4000plus ) ، وضع معيار ، والقضاء على تهمة واسطة .

4 . كاشف : 4-fractionated backscattered كاشف ، كاشف فراغ منخفضة الإلكترون الثانوي ( tm4000plus ) .

نطاق الخدمة :

اختبار البند Test Item	نطاق الخدمة Scope
الملاحظة المجهرية	وفقا لمتطلبات العملاء ، ومراقبة وتحليل عينة منطقة معينة و الشكل المعين .10 , 000عصر لا يمكن اختبار السوائل والمواد المتطايرة
تحليل عنصري	قياس مدىودقة .: Li3~Cf98 نطاق التطبيق : البوليمر ، والمعادن ، والمواد غير العضوية ، ومسحوق ، الخ . نصف الكمية والنوعية . لا يمكن اختبار السوائل والمواد المتطايرة
قسم التحليل	1. المجهر الضوئي ، مجهر مسح بالإلكترون ، ووزارة شؤون المرأة 2. الحكم الرئيسي طريقة الكسر(صلابة و هشاشةوالكراك المصدر وتمديد الاتجاه ، الخ . 3. يحتوي التقرير على كسر الصور والنتائج التحليلية ، ولكن لا يمكن تحديد سبب الكسر
تحليل الفشل	تحليل المنتجات المعدنية للتآكل التحليل النوعي رواسب الطلاء المعدني تحليل المواد الأجنبية من التلوث المتوسط
التحليل النوعي سمك وتكوين طلاء	طلاء الفراغ الجزئي0.8μmسمك الطلاء التاليةSEMقياس سمك ، أقصى قدر من القرار0.01μmالمسح الضوئي وتحليل تكوين متعدد الطبقات طلاء خط

مجال التطبيقس

علوم الحياة

علم المواد

الكيمياء .

تصنيع الإلكترونيات

صناعة الأغذية

منتج مماثل يوصي