zsx بريموس الرابع الطول الموجي الأشعة السينية المشتتة الإسفار مطياف

فائدة نموذج يعتمد على تصميم الإضاءة العليا ، لا داعي للقلق حول تلوث مسار الضوء ، عناء التنظيف ، وزيادة وقت التنظيف ، الخ . جمع كل المزايا من سلسلة ZSX : نظام فراغ مزدوج ، فراغ التلقائي السيطرة ، ورسم الخرائط / تحليل المنطقة الصغيرة ، سوبر ضوء حساسية فائقة العناصر الأساسية التنظيف التلقائي الخ . zsx primusiv يمكن تحليل عينات معقدة بمرونة . م رقيقة جدا نافذة أنبوب السلس ، وضمان عنصر ضوء تحليل الحساسية . الأكثر تقدما حزمة رسم الخرائط يمكن الكشف عن التجانس والإدراج . zsx بريموس الرابع مجهزة تجهيزا كاملا لمواجهة تحديات القرن الحادي والعشرين مختبر

نطاق التحليل :

رسم الخرائط : عنصر توزيع انه الختم : عينة الغرفة كانت دائما في فراغ .

ZSX Primus IV

إن rigaku zsx بريموس الرابع هو أكثر من نوع أنبوب الطول الموجي مضان الأشعة السينية المشتتة المستمر ( wdxrf ) مطياف ، والتي يمكن بسرعة تحديد العناصر الذرية الرئيسية والثانوية من البريليوم ( بي ) إلى اليورانيوم ( ش ) ، نوع العينة - مع الحد الأدنى من المعايير .

نظام خبير جديد zsx XRF

إن zsx التوجيه يدعم كل جانب من جوانب XRF قياس وتحليل البيانات . لا يمكن إجراء تحليل دقيق إلا من قبل الخبراء ؟ لا - هذا هو الماضي . إن zsx guidance البرمجيات لديها المدمج في XRF الخبرة والخبرة التي يمكن التعامل مع إعدادات معقدة . المشغل يحتاج فقط إلى إدخال المعلومات الأساسية عن عينة ، وتحليل المكونات القياسية . خطوط القياس مع الحد الأدنى من التداخل ، الخلفية المثلى وتصحيح المعلمات ، بما في ذلك خط التداخل ، يمكن تعيين تلقائيا بواسطة مطياف الكتلة .

متفوقة عنصر الضوء XRF الأداء مع انعكاس البصريات متفوقة الموثوقية

ZSX بريموس الرابع مبتكرة البصرية التكوين أعلاه . بسبب صيانة غرفة العينة ، لم تعد هناك حاجة للقلق حول مسار الشعاع الملوث أو التوقف . الهندسة فوق عنصر بصري يزيل مشكلة التنظيف و يطيل عمر خدمة . ZSX بريموس الرابع WDXRF مطياف يتميز الأداء الممتاز والمرونة في تحليل العينات الأكثر تعقيدا ، وذلك باستخدام أنبوب 30 ميكرون ، والذي هو أرق محطة أنبوب نافذة في هذه الصناعة ، ويمكن أن توفر عنصر الضوء ممتازة ( ض منخفضة ) حد الكشف .

الخرائط و تحليل متعدد نقطة XRF

جنبا إلى جنب مع أحدث حزمة المسح ورسم الخرائط للكشف عن التوحيد و إدراج zsx بريموس الرابع يمكن أن تجعل بسيطة ومفصلة XRF القياسات الطيفية من العينات ، من أجل توفير نظرة ثاقبة من الصعب الحصول على أساليب تحليلية أخرى . تحليل متعدد النقاط المتاحة يمكن أن تساعد أيضا في القضاء على أخطاء أخذ العينات في المواد غير المتجانسة .

SQX المعايير الأساسية باستخدام البرمجيات مسح لوبيز

مسح لوبيز يسمح للمستخدم إجراء تحليل عنصر XRF عينة مجهولة دون تحديد مسبق . توفير الوقت وظيفة فقط بضع نقرات من الفأرة وأدخل اسم العينة . جنبا إلى جنب مع sqx المعلمة الأساسية البرمجيات ، فإنه يمكن توفير أكثر دقة وأسرع XRF النتائج . sqx تلقائيا بتصحيح جميع آثار المصفوفة ، بما في ذلك خط التداخل . كما يمكن تصحيح sqx الكتروضوئي ( الضوء و العناصر الخفيفة جدا ) ، والغلاف الجوي ، والشوائب ، وحجم العينة الثانوية الإثارة الآثار . باستخدام مطابقة المكتبة والكمال مسح محلل يمكن تحسين دقة .

سمة

• تحليل العناصر من أن ش

• zsx نظام خبير البرمجيات

• القنوات الرقمية محلل ( d-mca ) .

• زي تحليل واجهة قياس التقليدية

• الأجهزة البصرية فوق الأنابيب للحد من التلوث

• مساحة صغيرة ، واستخدام مختبر الفضاء المحدودة

• تحليل عينات صغيرة مثل 500

• أنبوب 30 μ يوفر خصائص عنصر الضوء ممتازة

• عنصر التضاريس / توزيع وظائف رسم الخرائط

• الهيليوم ختم يعني أن الأجهزة البصرية هي دائما في فراغ

•